> 探头
 


在线测量系统中有很多不同种类的探头,它们可以分为两大类:

  • 1. 接触式测量探头
  • 2. 非接触式测量探头

仅提供后者:非接触式测量探头。这种探头通过如下四种技术满足了绝大多数应用的需要。

  • 1. X射线探头 Scantech在此技术上处于领先地位,在1992年首次采用X射线探头用于塑料薄膜的厚度测量,并在1993年用于无纺布材料的重量测量。
    X射线探头广泛用于金属板材的厚度测量。
  • 2. 红外线探头。 Scantech系统地使用这种类型的传感器来测量多层膜阻隔层厚度,并常用于测量涂层重量和湿度。
  • 3. Beta射线探头。 在最需要的测量厚度与单位面积重量两者之间折中的时候,这是Scantech提供的最后一种策略。由于Beta射线探头会使用到放射源,这将会给客户在产品申报方面带来更多的困难。
  • 4. 激光三角法测量探头。 Scantech研发了自有知识产权的技术。这种探头用于测量不均匀材料的厚度(例如不同密度、多层不同材质、发泡材料……)。这些探头也能定量地测量材料的表面状况例如表面粗糙度。


不同种类的探头可以一用于一个测厚仪以答到不同的测量要求。例如,一个X射线探头和一个激光三角法测量探头的组合可以测量材料的密度。

所有Scanech的探 头都通过测厚仪内部总线来连接并于本地智能化处理。实现了探头信号直接数字化和测量数据预处理。